کنترل کیفیت و عیب‌یابی تجهیزات

عیب‌یابی تجهیزات لایه‌نشانی و سیستم‎های خلا: تکنیسین‌ها، مهندسین و کارشناسان گروه کوثرتک می‌توانند دستگاه‌ها و تجهیزات پوشش‌دهی و لایه‌نشانی نظیر پاشش حرارتی، پاشش پلاسما، لایه نشانی الکتروفورتیک (EPD)، آبکاری الکترولیتی، برآرایی پرتو مولکولی (MBE) و برآرایی پرتو شیمیایی (CBE)، رسوب شیمیایی فاز بخار (CVD و PECVD یا PACVD)، انباشت لایه‌ی اتمی (ALD)، تبخیر حرارتی (TE و GLAD) و رسوب فیزیکی فاز بخار (PVD)، تبخیر به کمک باریکه‌ی الکترونی (EBPVD)، آبکاری یونی، انباشت لیزر پالسی (PLD)، تبخیر برهمکنشی فعال شده (ARE)، انباشت باریکه‌ی خوشه‌ی یونیزه شده (ICBD) و کندوپاش مغناطیسی (اسپاترینگ) را عیب یابی کنند و طراحی سیستم‌های خلأ و نشتی‌های محفظه‌های انباشت را بررسی نمایند.

کنترل کیفیت پوشش‌ها و لایه‌های نازک: همواره محققان و صنعتگران نگران کیفیت پوشش‌ها و لایه‌های نازک انباشت شده‌ی خود بوده‌اند تا بتوانند به درستی آن‌ها را مطالعه و ارزیابی کنند و همچنین از خواص فیزیکی و شیمیایی مورد انتظار این پوشش‌ها اطمینان حاصل کنند. از اینرو کارشناسان گروه کوثرتک آماده هستند تا در تمامی قدم‌ها شما را در کنترل آنالیزهای دندانه‌گذاری و نانودندانه‌گذاری (سختی و نانوسختی)، خراش و نانوخراش، سایش، خستگی، خوردگی در محلول‌های نمکین و اسیدی، پلاریزاسیون پتانسیو دینامیکی، طیف‌سنجی آمپدانس الکتروشیمیایی (EIS)، طیف‌سنجی مرئی-فرابنفش(UV-Vis)، بلورنگاری (کریستالوگرافی) و پراش اشعه‌ی ایکس (XRD، GIXRD، SAXS و غیره)، طیف‌سنجی نورتابناکی (فوتولومینسانس)، طیف‌سنجی تبدیل فوریه فروسرخ (FTIR)، بیضی‌سنجی (الیپسومتری)، طیف‌سنجی الکترونی اوژه (AES)، طیف‌سنجی رامان و میکرورامان، طیف‌سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)، طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)، طیف‌سنجی پراكندگي بازگشتي رادرفورد (RBS)، طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)، طیف‌سنجی جرمی پلاسمای جفت‌شده القایی (ICP)، طیف‌سنجی جذب اتمی (AAS)، طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس (EDS یا EDX)، اثر هال، سنج مقاومت الکتریکی، پروب چهار نقطه‌ای (4-point probe)، میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM، STEM، HRTEM)، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، میکروسکوپ رامان و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM و FESEM) همراهی کنند.